檢測信息(部分)
問:多晶硅產(chǎn)品的基本信息是什么?
答:多晶硅是光伏和半導(dǎo)體行業(yè)的重要原材料,呈灰色金屬光澤,具有高純度、高熔點特性,主要用于制造太陽能電池和集成電路。
問:多晶硅檢測的用途范圍有哪些?
答:檢測服務(wù)覆蓋光伏組件生產(chǎn)、半導(dǎo)體晶圓制造、電子元器件加工等領(lǐng)域,確保產(chǎn)品符合行業(yè)標準及安全性能要求。
問:多晶硅檢測的常規(guī)流程是什么?
答:檢測流程包括樣品預(yù)處理、儀器分析、數(shù)據(jù)比對與報告生成,涵蓋物理性能、化學(xué)成分及電學(xué)特性等多維度測試。
檢測項目(部分)
- 純度:衡量材料中主成分占比,影響導(dǎo)電性能
- 電導(dǎo)率:評估電流傳輸效率的關(guān)鍵參數(shù)
- 氧含量:雜質(zhì)濃度影響材料穩(wěn)定性
- 碳含量:雜質(zhì)元素可能引發(fā)晶格缺陷
- 金屬雜質(zhì):重金屬殘留影響半導(dǎo)體性能
- 晶粒尺寸:決定材料機械強度和加工特性
- 位錯密度:反映晶體結(jié)構(gòu)完整性
- 電阻率:表征材料對電流的阻礙能力
- 少子壽命:衡量光伏材料能量轉(zhuǎn)換效率
- 表面粗糙度:影響器件接觸性能
- 晶體取向:決定材料各向異性特征
- 熱膨脹系數(shù):評估溫度變化下的尺寸穩(wěn)定性
- 密度:材料致密性的直接體現(xiàn)
- 比表面積:影響化學(xué)反應(yīng)活性
- 光學(xué)反射率:光伏應(yīng)用中的關(guān)鍵光學(xué)參數(shù)
- 氫含量:影響材料鈍化效果
- 氯含量:殘留腐蝕性物質(zhì)檢測
- 晶體缺陷:微觀結(jié)構(gòu)完整性的重要指標
- 載流子濃度:決定半導(dǎo)體導(dǎo)電類型
- 晶界特性:影響多晶材料整體性能
檢測范圍(部分)
- 太陽能級多晶硅
- 電子級多晶硅
- 冶金級多晶硅
- 區(qū)熔法多晶硅
- 流化床法多晶硅
- 直拉法多晶硅
- 鑄造多晶硅
- 顆粒狀多晶硅
- 棒狀多晶硅
- 塊狀多晶硅
- 薄膜多晶硅
- 高阻多晶硅
- 低阻多晶硅
- 摻雜多晶硅
- 未摻雜多晶硅
- 回收多晶硅
- 半導(dǎo)體用多晶硅
- 光伏電池用多晶硅
- 集成電路用多晶硅
- 傳感器用多晶硅
檢測儀器(部分)
- 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀
- 四探針電阻測試儀
- 掃描電子顯微鏡
- X射線衍射儀
- 傅里葉紅外光譜儀
- 輝光放電質(zhì)譜儀
- 原子力顯微鏡
- 二次離子質(zhì)譜儀
- 熱重分析儀
- 激光粒度分析儀
檢測標準(部分)
GB/T 2881-2014工業(yè)硅
GB/T 4059-2018硅多晶氣氛區(qū)熔基磷檢驗方法
GB/T 4060-2018硅多晶真空區(qū)熔基硼檢驗方法
GB/T 6497-1986地面用太陽電池標定的一般規(guī)定
GB/T 10067.416-2019電熱和電磁處理裝置基本技術(shù)條件 第416部分:多晶硅鑄錠爐
GB/T 12963-2014電子級多晶硅
GB/T 15909-2017電子工業(yè)用氣體 硅烷
GB/T 18916.47-2020取水定額 第47部分:多晶硅生產(chǎn)
GB/T 24579-2009酸浸取 原子吸收光譜法測定多晶硅表面金屬污染物
GB/T 24582-2009酸浸取 電感耦合等離子質(zhì)譜儀測定多晶硅表面金屬雜質(zhì)
GB/T 25074-2017太陽能級多晶硅
GB/T 28654-2018工業(yè)三氯氫硅
GB/T 29054-2019太陽能電池用鑄造多晶硅塊
GB/T 29055-2019太陽能電池用多晶硅片
GB/T 29057-2012用區(qū)熔拉晶法和光譜分析法評價多晶硅棒的規(guī)程
GB/T 29195-2012地面用晶體硅太陽電池總規(guī)范
GB 29447-2012多晶硅企業(yè)單位產(chǎn)品能源消耗限額
GB/T 30860-2014太陽能電池用硅片表面粗糙度及切割線痕測試方法
GB/T 31058-2014電子工業(yè)用氣體 四氟化硅
GB/T 32277-2015硅的儀器中子活化分析測試方法
GB/T 32279-2015硅片訂貨單格式輸入規(guī)范
GB/T 32573-2016硅粉總碳含量的測定感應(yīng)爐內(nèi)燃燒后紅外吸收法
GB/T 32649-2016光伏用高純石英砂
GB/T 32651-2016采用高質(zhì)量分辨率輝光放電質(zhì)譜法測量太陽能級硅中痕量元素的測試方法
GB/T 32652-2016多晶硅鑄錠石英坩堝用熔融石英料
GB/T 33236-2016多晶硅 痕量元素化學(xué)分析 輝光放電質(zhì)譜法
GB/T 35307-2017流化床法顆粒硅
GB/T 35309-2017用區(qū)熔法和光譜分析法評價顆粒狀多晶硅的規(guī)程
GB/T 37049-2018電子級多晶硅中基體金屬雜質(zhì)含量的測定 電感耦合等離子體質(zhì)譜法
GB/T 37051-2018太陽能級多晶硅錠、硅片晶體缺陷密度測定方法
檢測樣品(部分)
單晶硅、多晶硅、太陽能多晶硅、電子級多晶硅、低溫多晶硅、光伏多晶硅、電子多晶硅等。
檢測優(yōu)勢
檢測資質(zhì)(部分)
檢測流程
1、中析檢測收到客戶的檢測需求委托。
2、確立檢測目標和檢測需求
3、所在實驗室檢測工程師進行報價。
4、客戶前期寄樣,將樣品寄送到相關(guān)實驗室。
5、工程師對樣品進行樣品初檢、入庫以及編號處理。
6、確認檢測需求,簽定保密協(xié)議書,保護客戶隱私。
7、成立對應(yīng)檢測小組,為客戶安排檢測項目及試驗。
8、7-15個工作日完成試驗,具體日期請依據(jù)工程師提供的日期為準。
9、工程師整理檢測結(jié)果和數(shù)據(jù),出具檢測報告書。
10、將報告以郵遞、傳真、電子郵件等方式送至客戶手中。
檢測優(yōu)勢
1、旗下實驗室用于CMA/CNAS/ISO等資質(zhì)、高新技術(shù)企業(yè)等多項榮譽證書。
2、檢測數(shù)據(jù)庫知識儲備大,檢測經(jīng)驗豐富。
3、檢測周期短,檢測費用低。
4、可依據(jù)客戶需求定制試驗計劃。
5、檢測設(shè)備齊全,實驗室體系完整
6、檢測工程師專業(yè)知識過硬,檢測經(jīng)驗豐富。
7、可以運用36種語言編寫MSDS報告服務(wù)。
8、多家實驗室分支,支持上門取樣或寄樣檢測服務(wù)。
檢測實驗室(部分)
結(jié)語
以上為多晶硅檢測的檢測服務(wù)介紹,如有其他疑問可聯(lián)系在線工程師!
















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